WavePulser 40iX高速互連分析儀，提供無與倫比的特征洞察力,可同時顯示時域和頻域細(xì)節(jié)

Chestnut Ridge, NY, June 4, 2019 ，力科推出WavePulser 40iX高速互連分析儀，這是一種獨特的互連測試和驗證解決方案。WavePulser 40iX是高速硬件設(shè)計人員和測試工程師理想的工具，可用于表征和分析用于高速串行協(xié)議的互連和線纜，如PCIExpress，HDMI，USB，SAS，SATA，Fiber Channel，InfiniBand，千兆以太網(wǎng)和汽車以太網(wǎng)。

到目前為止，互連測試和驗證在時域和頻域測試上被分成兩部分，對于前者，信號完整性工程師使用TDR生成阻抗曲線來表征階躍/脈沖響應(yīng)，TDR的特點是空間分辨率高，能夠精確定位傳輸線的損傷，并通過阻抗曲線的變化來標(biāo)注。對于后者，以高動態(tài)范圍為特征的VNA通常由微波工程師用于測量射頻（RF）器件的S參數(shù)，當(dāng)用于高速互連測試時，VNA需要推導(dǎo)出DC響應(yīng)以及用于時域仿真、time gating和抖動分析的分析工具。兩種測試儀器都不能完全滿足測試和驗證高速互連的設(shè)計工程師的需求。

WavePulser 40iX集成了時域和頻域表征功能，極大地簡化了高速互連測試和驗證的過程。在單次采集和單臺儀器中，WavePulser 40iX既可以像矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）執(zhí)行完整的S參數(shù)頻率表征，又可以像時域反射儀（TDR）執(zhí)行阻抗分析，并提供深度分析功能。WavePulser 40iX可快速自動校準(zhǔn)，易于使用，解析物理信號路徑的復(fù)雜性，準(zhǔn)確表征串行數(shù)據(jù)線纜纜、通道、連接器、過孔、背板、PCB，芯片和SoC封裝等。測量的S參數(shù)也可用于其他分析，包括timegating、去嵌、眼圖、優(yōu)化的均衡設(shè)置、串行數(shù)據(jù)碼型仿真和高級抖動分析。

“WavePulser40iX將時域和頻率域整合在一個儀器中，可以檢測損傷，如組裝不良的連接器、機(jī)械損壞的線纜或通道中的不連續(xù)位置，”力科信號完整性專家EricBogatin說。“僅使用頻域中的S參數(shù)就無法檢測到這種損傷，因為這些影響在DUT的頻率響應(yīng)中被分散了，但WavePulser 40iX可以輕松識別和定位它們，空間分辨率小于1 mm，它還提供從DC到40 GHz的單端和混合模式S參數(shù)測量（可用于仿真）。如果沒有WavePulser 40iX，可能需要四種不同的軟件工具來測量S參數(shù)、去嵌夾具、在時域或頻域中顯示為單端或混合模式，并模擬眼圖。”